GB/T 12703.4-2010紡織品 靜電性能的評定 第4部分：電阻率
2023-08-23
GB/T 12703.4-2010紡織品 靜電性能的評定 第4部分：電阻率 GB/T 12703.4-2010是關于紡織品靜電性能評定的標準。其中，“第4部分：電阻率”規(guī)定了測量紡織品電阻率的方法。 該標準規(guī)定了一種使用四探針法測量紡織品電阻率的測試方法。四探針法是一種常用的測試方法，使用四個探針按照直線排列，直接接觸紡織品的表面進行測試。
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GB/T 11297.7-1989銻化銦單晶電阻率及霍耳系數(shù)的測試方法
2023-08-23
GB/T 11297.7-1989銻化銦單晶電阻率及霍耳系數(shù)的測試方法 這是一個關于銻化銦單晶電阻率和霍耳系數(shù)的測試方法的標準。它規(guī)定了使用四探針法測量銻化銦單晶電阻率和霍耳系數(shù)的測試方法。 在四探針法中，使用四個探針按照直線排列，分別與材料接觸，然后通過電源向材料施加一定的電流，同時測量材料兩端的電壓。根據(jù)歐姆定律，可以計算出材料的電阻率。
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GB/T 14141-2009硅外延層、擴散層和離子注入層薄層電阻的測定 直排四探針法
2023-08-23
GB/T 14141-2009標準提供了使用直排四探針法測定硅外延層、擴散層和離子注入層薄層電阻的方法，對于評估半導體器件和材料的電性能具有重要意義。 直排四探針法是一種常用的測試方法，用于測量半導體材料的電阻率。該方法使用四個探針按照直線排列，直接接觸材料的表面進行測試。 直排四探針法的優(yōu)點包括： 測試速度快，適合于批量測試。 對樣品的要求較低，不需要進行特殊處理。 測量結果受樣品形狀和尺寸的影響較小。 直排四探針法的測試原理是基于歐姆定律，通過測量探針之間的電壓和電流來計算材料的電阻率
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GB/T 11073-2007硅片徑向電阻率變化的測量方法
2023-08-23
GB/T 11073-2007硅片徑向電阻率變化的測量方法 GB/T 11073-2007是關于硅片徑向電阻率變化的測量方法的標準。它適用于厚度小于探針平均間距、直徑大于15mm、電阻率為1X10^-3Ω·cm到3X10^3Ω·cm的硅單晶圓片徑向電阻率變化的測量。 硅片的徑向電阻率是指硅片沿徑向方向的電阻率。在標準的測試方法中，硅片的徑向電阻率是通過測量硅片在不同位置的電阻值，然后計算出平均電阻率來實現(xiàn)的。
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GB/T 6616-2009半導體硅片電阻率及硅薄膜薄層電阻測試方法 非接觸渦流法
2023-08-23
GB/T 6616-2009半導體硅片電阻率及硅薄膜薄層電阻測試方法 非接觸渦流法 規(guī)定了使用非接觸渦流法測試半導體硅片電阻率及硅薄膜薄層電阻的方法。該標準適用于半導體器件和材料中硅片和硅薄膜的電阻率測試。 根據(jù)標準，測試系統(tǒng)應包括測試裝置、探頭、信號發(fā)生器、測量儀器和試樣臺等部分。測試時，將硅片或硅薄膜放在試樣臺上，將探頭放置在試樣上方，并調整探頭與試樣的距離。然后，通過信號發(fā)生器向探頭發(fā)送激勵信號，探頭產生渦流磁場，該磁場在試樣上產生感應電流。同時，測量儀器測量試樣的電阻值。
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GB/T 6617-2009硅片電阻率測定 擴展電阻探針法
2023-08-23
GB/T 6617-2009硅片電阻率測定 擴展電阻探針法 規(guī)定了用擴展電阻探針法測定硅片的電阻率的方法。該標準適用于半導體器件和材料中硅片的電阻率測試。 根據(jù)標準，測試設備應包括探針、放大器、信號發(fā)生器、示波器、電源和測試夾具等。測試時，將硅片放在測試夾具上，將探針與硅片接觸并將探針固定在測試夾具上。然后，通過信號發(fā)生器和放大器在硅片上施加一個小的交流電壓，同時觀察示波器上的讀數(shù)。通過這些讀數(shù)，可以計算出硅片的電阻率
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GB/T 26074-2010鍺單晶電阻率直流四探針測量方法
2023-08-23
GB/T 26074-2010鍺單晶電阻率直流四探針測量方法 本標準規(guī)定了用直流四探針法測量鍺單晶電阻率的方法。 本標準適用于測量鍺單晶的體電阻率以及直徑大于探針間距的10倍、厚度小于探針間距4倍的鍺單晶圓片的電阻率。
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GB/T 32993-2016碳纖維體積電阻率的測定
2023-08-23
GB/T 32993-2016碳纖維體積電阻率的測定 規(guī)定了碳纖維體積電阻率的測定方法。該標準適用于碳纖維絲束、碳纖維紗線等。 根據(jù)該標準，碳纖維體積電阻率的測定可以采用方法A（單絲法）和方法B（紗束法）。其中，方法A是指將碳纖維單絲置于電極之間，通過測量單絲的電阻值來計算體積電阻率；方法B是指將碳纖維紗線置于電極之間，通過測量紗線的電阻值來計算體積電阻率。
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GB/T 34520.6-2017連續(xù)碳化硅纖維測試方法 第6部分：電阻率
2023-08-23
GB/T 34520.6-2017連續(xù)碳化硅纖維測試方法 第6部分：電阻率 GB/T 34520.6-2017是連續(xù)碳化硅纖維測試方法的標準，其中的第6部分是關于電阻率的測定。 按照該標準，可以采用以下步驟來測定連續(xù)碳化硅纖維的電阻率： 準備試樣：從連續(xù)碳化硅纖維中獲取具有一定長度的試樣。 處理試樣：對試樣進行必要的處理，如清洗、干燥等，以消除表面影響。 測量電阻率：使用高精度測量儀器，測量試樣的電阻率。
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GB/T 24525-2009炭素材料電阻率測定方法
2023-08-23
GB/T 24525-2009炭素材料電阻率測定方法 GB/T 24525-2009是炭素材料電阻率測定方法的標準。該標準適用于測定炭素材料（如炭素制品、石墨電極、炭纖維復合材料等）的電阻率。 按照該標準，可以采用以下步驟來測定炭素材料的電阻率： 準備試樣：從炭素材料中獲取具有一定尺寸和形狀的試樣。
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